QJ 1054.4-1986 中系列组合夹具件结构形式 回转件
时间:2024-05-21 11:27:11 来源: 标准资料网 作者：标准资料网 阅读：8309
基本信息
| 标准名称： | 中系列组合夹具件结构形式 回转件 |
| 发布日期： | 1986-07-03 |
| 实施日期： | 1986-07-03 |
| 首发日期： | |
| 作废日期： | 1995-04-21 |
| 出版日期： | |
| 页数： | 3页 |
适用范围
没有内容
前言
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目录
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引用标准
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所属分类： 电气工程 电工器件 连接装置
【英文标准名称】:WeightsofclassesE,E,F,F,M,M,M,M,andM-Metrologicalandtechnicalrequirements(OIMLR111-1:2004)
【原文标准名称】:E、E、F、F、M、M、M、M和M等级的重量.度量衡学和技术要求
【标准号】:DIN8127-2007
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:2007-11-01
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:天平;等级;结构要求;定义;误差极限;材料;测量;测量重锤;计量学;精密度;重量;加权值
【英文主题词】:Balances;Classes;Constructionrequirements;Definition;Definitions;Errorlimits;Materials;Measurement;Measuringloads;Metrology;Precision;Weights;Weigthingvalue
【摘要】:Thisstandardcontainstechnicalandmetrologicalrequirementsforweightsused:-asstandardfortheverificationofweighinginstruments;-asstandardsfortheverificationorcalibrationofweightsofaloweraccuracyclass;-withweighinginstruments.
【中国标准分类号】:N13
【国际标准分类号】:17_100
【页数】:99P.;A4
【正文语种】:德语
MIL-STD-750E, DEPARTMENT OF DEFENSE TEST METHOD STANDARD: TEST METHODS FOR SEMICONDUCTOR DEVICES (20 NOV 2006)., This standard establishes uniform methods for testing semiconductor devices, including basic environmental tests to determine resistance to deleterious effects of natural elements and conditions surroundingmilitary operations, and physical and electrical tests. For the purpose of this standard, the term "devices" includessuch items as transistors, diodes, voltage regulators, rectifiers, tunnel diodes, and other related parts. This standard is intended to apply only to semiconductor devices.